|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Scanning transmission electron microscopy studies of the microstructure and chemistry of the YBa2Cu3O7−δ /BaF2 interface |
| Auteur: |
Lee, J.L. Weiss, C.A. Buhrman, R.A. Silcox, J. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 30 (1999) nr. 5 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |