|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate measurements of crystal structure factors using a FEG electron microscope |
| Auteur: |
Ren, G. Zuo, J.M. Peng, L.-M. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 28 (1997) nr. 6 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd. All rights reserved. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| volgende >> |