|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Use of a mass-thickness marker to estimate systematic errors and statistical noise in the detection of phosphorus by electron spectroscopic imaging |
| Auteur: |
Richter, K Haking, A Troester, H Spiess, E Spring, H Probst, W Schultz, P Witz, J Trendelenburg, M |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 28 (1997) nr. 5 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 9 gevonden artikelen
| << vorige |