|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Specular reflectance: A convenient tool for polymer characterization by FTIR-microscopy? |
| Auteur: |
Chalmers, J.M. Everall, N.J. Ellison, S. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 27 (1996) nr. 5 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |