|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Comprehensive study of corrosion mechanisms in Integrated Circuit (IC) copper metal lines within TEM lamellae |
| Auteur: |
Borowiak, Céline Lorut, Fréderic Mattei, Jean-Gabriel |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 195 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |