|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Measuring electrical properties in semiconductor devices by pixelated STEM and off-axis electron holography (or convergent beams vs. plane waves). |
| Auteur: |
Cooper, David Bruas, Lucas Bryan, Matthew Boureau, Victor |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 179 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 6 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |