|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Combined beam hardening artifact correction and quantitative microanalysis of colloidal depositions in deep bed filtration experiments investigated by 3D X-ray computed microtomography |
| Auteur: |
Ilzig, Thomas Günther, Stefan Odenbach, Stefan |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 158 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |