|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Crystalline defect analysis in epitaxial Si0.7Ge0.3 layer using site-specific ECCI-STEM |
| Auteur: |
Han, Han Strakos, Libor Hantschel, Thomas Porret, Clement Vystavel, Tomas Loo, Roger Caymax, Matty |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 150 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |