|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Sample preparation for analytical scanning electron microscopy using initial notch sectioning |
| Auteur: |
Busch, Richard Tielemann, Christopher Reinsch, Stefan Müller, Ralf Patzig, Christian Krause, Michael Höche, Thomas |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 150 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |