|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
A method of using Si L-edge for O/Si and N/Si quantitative ratio analysis by electron energy loss spectroscopy (EELS) |
| Auteur: |
Wang, Yun-Yu Chan, Sook Fun Jin, Qiang Zhuang, Kent Choi, Jae Kyu |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 146 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| volgende >> |