|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface-tracked scanning ion conductance microscopy: A novel imaging technique for measuring topography-correlated transmembrane ion transport through porous substrates |
| Auteur: |
Venkatesh, Vijay Heinemann, Christian Sundaresan, Vishnu Baba |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 120 (2019) nr. C pagina's 57-65 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |