|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Multiple-ellipse fitting method to precisely measure the positions of atomic columns in a transmission electron microscope image |
| Auteur: |
Zhang, Q. Jin, C.H. Xu, H.T. Zhang, L.Y. Ren, X.B. Ouyang, Y. Wang, X.J. Yue, X.J. Lin, F. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 113 (2018) nr. C pagina's 99-104 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |