|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Complementary characterization of Ti–Si–C films by x-ray diffraction and absorption |
| Auteur: |
Lawniczak-Jablonska, K. Klepka, M.T. Dynowska, E. Wolska, A. Borysiewicz, M.A. Piotrowska, A. |
| Verschenen in: |
Radiation physics and chemistry |
| Paginering: | Jaargang 93 (2013) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |