|
Characterization of an Yb:LuVO4 single crystal using X-ray topography, high-resolution X-ray diffraction, and X-ray photoelectron spectroscopy |
|
|
|
Titel: |
Characterization of an Yb:LuVO4 single crystal using X-ray topography, high-resolution X-ray diffraction, and X-ray photoelectron spectroscopy |
Auteur: |
Paszkowicz, W. Romanowski, P. Bąk-Misiuk, J. Wierzchowski, W. Wieteska, K. Graeff, W. Iwanowski, R.J. Heinonen, M.H. Ermakova, O. Dąbkowska, H. |
Verschenen in: |
Radiation physics and chemistry |
Paginering: |
Jaargang 80 (2011) nr. 10 pagina's 7 p. |
Jaar: |
2011 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|