|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 64 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of various crystalline structures at the SiO2/Si interface by positrons |
| Auteur: |
Brauer, G. Kuriplach, J. Melikhova, O. Anwand, W. Bečvář, F. Skorupa, W. |
| Verschenen in: |
Radiation physics and chemistry |
| Paginering: | Jaargang 76 (2007) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 64 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |