|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 89 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation of PIN diode characteristics owing to displacement damage from low-fluence neutron exposure |
| Auteur: |
Srivaths, Vishal Cho, I-Chun Lin, Chien-Yu Lee, Shen-Hao Farooq, Aamir Singh, Hawibam Thoithoi Tan, Cher-Ming Chao, Tsi-Chian |
| Verschenen in: |
Radiation physics and chemistry |
| Paginering: | Jaargang 236 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 89 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |