|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 64 gevonden artikelen
| Titel: |
Non-destructive evaluation of thickness of material plates through Compton back-scattering technique using Si(Li) detector |
| Auteur: |
Chuong, Huynh Dinh Thong, Nguyen Duy Nguyen, Vo Hoang Minh, Le Hoang Truc Linh, Nguyen Thi Ho, Phan Long Thanh, Tran Thien Van Tao, Chau |
| Verschenen in: |
Radiation physics and chemistry |
| Paginering: | Jaargang 193 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 64 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |