|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 76 van 89 gevonden artikelen
| Titel: |
The effect and nature of the radiation induced oxide-interface traps on the performance of the Yb2O3 MOS device |
| Auteur: |
Kahraman, Aysegul Gurer, Umutcan Yilmaz, Ercan |
| Verschenen in: |
Radiation physics and chemistry |
| Paginering: | Jaargang 177 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 76 van 89 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |