|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 61 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
Statistical analysis of low-level material screening measurements via gamma-spectroscopy |
| Auteur: |
Heisel, M. Kaether, F. Simgen, H. |
| Verschenen in: |
Applied radiation and isotopes |
| Paginering: | Jaargang 67 (2009) nr. 5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 61 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |