|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of aluminum nitride thin films by ion beam analysis techniques |
| Auteur: |
Rihawy, M.S. Abdallah, B. Wassouf, A. Zetoun, W. |
| Verschenen in: |
Applied radiation and isotopes |
| Paginering: | Jaargang 206 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 45 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |