|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Development of convolutional neural network based Gaussian process regression to construct a novel probabilistic virtual metrology in multi-stage semiconductor processes |
| Auteur: |
Wu, Xiaofei Chen, Junghui Xie, Lei Chan, Lester Lik Teck Chen, Chun-I |
| Verschenen in: |
Control engineering practice |
| Paginering: | Jaargang 96 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |