|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 128 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of mechanical properties in nanometer scale using AFM-based nanoindentation tester |
| Auteur: |
Miyahara, K. Nagashima, N. Ohmura, T. Matsuoka, S. |
| Verschenen in: |
Nanostructured materials |
| Paginering: | Jaargang 12 (1999) nr. 5-8 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 128 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |