|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Film thickness effect on the properties of interconnection between YBCO and Si for superconductor and semiconductor integration |
| Auteur: |
Jeong, Y.S Park, J.H Eun, D.S Lee, S.Y Kim, C.H Hahn, T.S Kim, J.Y Yang, I.-S |
| Verschenen in: |
Applied superconductivity |
| Paginering: | Jaargang 5 (1997) nr. 7-12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |