Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 22 van 104 gevonden artikelen
 
 
  Backtest overfitting in the machine learning era: A comparison of out-of-sample testing methods in a synthetic controlled environment
 
 
Titel: Backtest overfitting in the machine learning era: A comparison of out-of-sample testing methods in a synthetic controlled environment
Auteur: Arian, Hamid
Norouzi Mobarekeh, Daniel
Seco, Luis
Verschenen in: Knowledge-based systems
Paginering: Jaargang 305 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2024
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 22 van 104 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland