|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 110 gevonden artikelen
| Titel: |
Few-shot defect recognition for the multi-domain industry via attention embedding and fine-grained feature enhancement |
| Auteur: |
Su, Yingtao Yan, Ping Lin, Junyao Wen, Chao Fan, Yong |
| Verschenen in: |
Knowledge-based systems |
| Paginering: | Jaargang 284 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 110 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |