|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Automatic test case generation for structural testing of function block diagrams |
| Auteur: |
Wu, Yi-Chen Fan, Chin-Feng |
| Verschenen in: |
Information and software technology |
| Paginering: | Jaargang 56 (2014) nr. 10 pagina's 17 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |