|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
A pattern-based outlier detection method identifying abnormal attributes in software project data |
| Auteur: |
Yoon, Kyung-A Bae, Doo-Hwan |
| Verschenen in: |
Information and software technology |
| Paginering: | Jaargang 52 (2010) nr. 2 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |