|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
CriticalFuzz: A critical neuron coverage-guided fuzz testing framework for deep neural networks |
| Auteur: |
Bai, Tongtong Huang, Song Huang, Yifan Wang, Xingya Xia, Chunyan Qu, Yubin Yang, Zhen |
| Verschenen in: |
Information and software technology |
| Paginering: | Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |