|
Effect of piezoelectricity on critical thickness for misfit dislocation formation at InGaN/GaN interface |
|
|
|
Titel: |
Effect of piezoelectricity on critical thickness for misfit dislocation formation at InGaN/GaN interface |
Auteur: |
Mishra, D. Cho, Y.-H. Shim, M.-B. Hwang, S. Kim, S. Park, C.Y. Seo, S.Y. Yoo, S.-H. Park, S.-H. Pak, Y.E. |
Verschenen in: |
Computational materials science |
Paginering: |
Jaargang 97 (2015) nr. C pagina's 9 p. |
Jaar: |
2015 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|