|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Electromigration damage mechanics of lead-free solder joints under pulsed DC: A computational model |
| Auteur: |
Yao, Wei Basaran, Cemal |
| Verschenen in: |
Computational materials science |
| Paginering: | Jaargang 71 (2013) nr. C pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |