|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 63 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization and depth profiles measurements of silicon nitride thin films on silicon and molybdenum substrates by Auger electron spectroscopy |
| Auteur: |
Fakih, Chakib Fakih, Glades Bachir Kaafarani, Ali Zoaeter, M. Bes, René Sylvain Berjoan, René |
| Verschenen in: |
Computational materials science |
| Paginering: | Jaargang 33 (2005) nr. 1-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 63 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |