|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 57 van 74 gevonden artikelen
| Titel: |
Probing the displacement damage mechanism in Si, Ge, GaAs by defects evolution analysis |
| Auteur: |
Zhang, Qin Zhuang, Yu Aierken, Abuduwayiti Song, Qiaogang Yang, Xin Zhang, Shuyi Wang, Qian Dou, Youbo |
| Verschenen in: |
Computational materials science |
| Paginering: | Jaargang 203 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 57 van 74 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |