|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Multi defect detection and analysis of electron microscopy images with deep learning |
| Auteur: |
Shen, Mingren Li, Guanzhao Wu, Dongxia Liu, Yuhan Greaves, Jacob R.C. Hao, Wei Krakauer, Nathaniel J. Krudy, Leah Perez, Jacob Sreenivasan, Varun Sanchez, Bryan Torres-Velázquez, Oigimer Li, Wei Field, Kevin G. Morgan, Dane |
| Verschenen in: |
Computational materials science |
| Paginering: | Jaargang 199 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |