|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Topological analysis of X-ray CT data for the recognition and trending of subtle changes in microstructure under material aging |
| Auteur: |
Maiti, A. Venkat, A. Kosiba, G.D. Shaw, W.L. Sain, J.D. Lindsey, R.K. Grant, C.D. Bremer, P.-T. Gyulassy, A.G. Pascucci, V. Gee, R.H. |
| Verschenen in: |
Computational materials science |
| Paginering: | Jaargang 182 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |