|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
Finite element simulation of the evolution process of inclusions in interconnects due to stress-induced interface migration |
| Auteur: |
Jing, Yabin Huang, Peizhen |
| Verschenen in: |
Computational materials science |
| Paginering: | Jaargang 177 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |