|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 105 van 105 gevonden artikelen
| Titel: |
X-Ray study of the interface layer between low temperature deposited diamond film and the silicon substrate |
| Auteur: |
Lu, F.X. Jiang, G.S. Yang, B.X. Chen, J. Wang, J.J. Yuan, Y. |
| Verschenen in: |
Diamond and related materials |
| Paginering: | Jaargang 2 (1993) nr. 2-4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 105 van 105 gevonden artikelen
| << vorige |