|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 58 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Mapping of extended defects in B-doped (001) homoepitaxial diamond films by electron-beam-induced current (EBIC) and cathodoluminescence (CL) combination technique |
| Auteur: |
Ri, Sung-Gi Yuan, Xiao Li Sekiguchi, Takashi Tokuda, Norio Ogura, Masahiko Okushi, Hideyo Yamasaki, Satoshi |
| Verschenen in: |
Diamond and related materials |
| Paginering: | Jaargang 17 (2008) nr. 4-5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 58 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |