|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 177 van 202 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface analysis and defect characterization of 4H–SiC wafers for power electronic device applications |
| Auteur: |
Scaltrito, L. Fanchini, G. Porro, S. Cocuzza, M. Giorgis, F. Pirri, C.F. Mandracci, P. Ricciardi, C. Ferrero, S. Sgorlon, C. Richieri, G. Merlin, L. |
| Verschenen in: |
Diamond and related materials |
| Paginering: | Jaargang 12 (2003) nr. 3-7 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 177 van 202 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |