|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 144 van 221 gevonden artikelen
| Titel: |
Multichannel ellipsometry from 1.5 to 6.5 eV for real time characterization of wide band gap materials: phase identification in boron nitride thin films |
| Auteur: |
Zapien, J.A Messier, R Collins, R.W |
| Verschenen in: |
Diamond and related materials |
| Paginering: | Jaargang 10 (2001) nr. 3-7 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 144 van 221 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |