|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 69 gevonden artikelen
| Titel: |
Secondary electron emission spectroscopy and total electron yield measurements for the assessment of near-surface damage in diamond |
| Auteur: |
Hoffman, A. Prawer, S. Kalish, R. |
| Verschenen in: |
Diamond and related materials |
| Paginering: | Jaargang 1 (1992) nr. 5-6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 69 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |