|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 103 gevonden artikelen
| Titel: |
Infrared reflectance characterization of porous GaN thin films on sapphire substrate using factorized-Rayleigh model |
| Auteur: |
Yew, P. Lee, S.C. Cheah, S.F. Ng, S.S. Abu Hassan, H. |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 96 (2019) nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 103 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |