|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 61 gevonden artikelen
| Titel: |
Spectroscopic ellipsometry analyses of thin films in different environments: An innovative “reverse side” approach allowing multi angle measurements |
| Auteur: |
Della Gaspera, Enrico Schutzmann, Stefano Guglielmi, Massimo Martucci, Alessandro |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 34 (2011) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 61 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |