|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of silicon nanocrystals size determination by Raman scattering and transmission electron microscopy measurements |
| Auteur: |
Blondeau, Jean Philippe Andreazza, Caroline Simon, Patrick Catan, Francis Allam, Lévi |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 29 (2006) nr. 2-3 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |