|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of Y2SiO5:Ce thin films |
| Auteur: |
Coetsee, E. Swart, H.C. Terblans, J.J. Ntwaeaborwa, O.M. Hillie, K.T. Jordaan, W.A. Buttner, U. |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 29 (2007) nr. 11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |