|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Optical modeling of SiOx thin films for physicochemical property measurement by spectroscopic ellipsometry |
| Auteur: |
Ge, Fangqi Wang, Likun Han, Gaorong Liu, Yong Ma, Sainan |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 164 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |