|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Dielectric function from ellipsometry measurements of niobium films |
| Auteur: |
Amador, Francisco A. Medrano, J.G. Raboño-Borbolla, Joaquín Cortazar-Martínez, Orlando Herrera-Gómez, Alberto Vazquez-Delgado, Marco Antonio Flores-Ruiz, Francisco J. |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 164 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |