|
Hard X-ray nanoprobe to study the emission properties of Ce-doped YAG wafer by using XEOL and TR-XEOL |
|
|
|
Titel: |
Hard X-ray nanoprobe to study the emission properties of Ce-doped YAG wafer by using XEOL and TR-XEOL |
Auteur: |
Li, Yi-Chen Huang, Tzu-Chi Wu, Yu-Hao Wei, Wei-Lon Wu, Tai-Sing Chang, Lo-Yeuh Lee, Chien-Yu Chen, Bo-Yi Yin, Gung-Chian Tang, Mau-Tsu Lin, Bi-Hsuan |
Verschenen in: |
Optical materials |
Paginering: |
Jaargang 156 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2024 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|