|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
Film thickness measurement and linear dichroism of organic thin films prepared by molecular beam deposition at oblique incidence |
| Auteur: |
Müller, Bert Jäger, Matthias Tao, Ye Kündig, Armin Chengzhi Cai, Bosshard, Christian Günter, Peter |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 12 (1999) nr. 2-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |