|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 71 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
Spectroscopic ellipsometry and morphological studies of nanocrystalline NiO and NiO/ITO thin films deposited by e-beams technique |
| Auteur: |
Emam-Ismail, M. El-Hagary, M. El-Sherif, H.M. El-Naggar, A.M. El-Nahass, M.M. |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 112 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 71 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |