|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
The five-factor model of the Positive and Negative Syndrome Scale II: A ten-fold cross-validation of a revised model |
| Auteur: |
van der Gaag, Mark Hoffman, Tonko Remijsen, Mila Hijman, Ron de Haan, Lieuwe van Meijel, Berno van Harten, Peter N. Valmaggia, Lucia de Hert, Marc Cuijpers, Anke Wiersma, Durk |
| Verschenen in: |
Schizophrenia research |
| Paginering: | Jaargang 85 (2006) nr. 1-3 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |